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華美沃特 |芯片的存儲磨損均衡技術的應用

更新時間:2024-06-12   點擊次數:6143

華美沃特 |芯片的存儲磨損均衡技術的應用

磨損均(jun)衡(heng):英文稱(cheng)作Wear Leveling,簡(jian)稱(cheng)為WL。寫(xie)入(ru)數據時(shi)對存(cun)儲單元進(jin)行動態(tai)分配(pei),使得每個存(cun)儲單元都能平均(jun)承(cheng)受寫(xie)入(ru)操(cao)作,從而(er)減緩了磨損的集中程(cheng)度(du),延長設備的使用壽命。

 

FLASH的擦(ca)(ca)寫次數大約(yue)是1萬次,使用傳統的存儲方式,一些(xie)內(nei)存塊(Block)會(hui)被(bei)頻繁(fan)地擦(ca)(ca)除(chu)寫入(ru)。而使用磨損均衡技(ji)術(shu),可(ke)以避免一些(xie)塊(Block)被(bei)頻繁(fan)擦(ca)(ca)除(chu)而迅速成為壞(huai)塊,而另一些(xie)塊則因(yin)極少擦(ca)(ca)除(chu)這樣不均衡的擦(ca)(ca)寫而導(dao)致(zhi)FLASH整體生命周(zhou)期(qi)縮短。即使FLASH中存在損壞(huai)的內(nei)存塊(Block),磨損均衡也能(neng)跳過壞(huai)塊進行存儲,延長FLASH的生命周(zhou)期(qi)。

 

市面上(shang)很多分析(xi)儀器目前采用存(cun)儲(chu)卡存(cun)儲(chu)模式,在沒有磨損均(jun)衡(wear leveling)的(de)情況下(xia),某(mou)些內(nei)存(cun)塊(block)很可能會被頻繁的(de)反復擦(ca)寫,最終報(bao)廢,降(jiang)低(di)了閃存(cun)的(de)壽命。磨損均(jun)衡(wear leveling)技術就是將擦(ca)寫操作均(jun)攤(tan)到(dao)各(ge)個內(nei)存(cun)塊(block),以防止某(mou)些內(nei)存(cun)塊(block)被提(ti)前耗(hao)盡使(shi)用壽命。

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